SADT HARTIP 2000 / HARTIP2000 D & DL

  측정방식

Leeb hardness measurement

  정확도

±0.3% @ HL=800, Repeatability: ±2HL

  화면

Digital LCD with backlight

  측정단위

HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/σb

  측정범위

HL170-960/ HRC17-69/ HRB13-101.7/ HB20-655/ HV80-940 /

HS32-99.5 / σb(rm)255-2180N/mm2

  임팩트 디바이서 타입

DU (External) /D-DL 2-in-1*

  측정방향

Universal angle (UA) type

  측정재료

11개의 금속성 재료 내장 선택

  저장기능

100 개의 데이터 저장

  통계기능

자동 합계기능

  재교정

사용자 정의

  인디케이터 표시

Low 배터리 표시

  인터페이스

RS232 마이크로프린터

Bluetooth (옵션) bluetooth 마이크로프린터연결가능

  자동 파워 OFF 기능

자동

  전원 환경

1.5V AA 알카라인 배터리 2개

  작업환경

-10~+40ºC

  제품사이즈 (mm)

124mm x 67mm x 30mm

  중량 (g)

240g

  규격

Conforming to ASTM A956, DIN 50156, GB/T 17394-1998

*: D-DL 2-in-1 프로브의 경우 DL 모델만 가능합니다.

Type

특 성

D

(기본) 대부분의 경도 측정에 활용되는 표준형 디바이스.

DC

길이가 매우 짧은 impact device 이며 그 외의 사양은 type D 와 동일 함.

- 공간이 좁아서 표준 디바이스인 D 타입으로 측정이 불가할 경우 선택 가능

- holes and cylinders

- 조립된 기계 장치의 내부 측정

D+15

전면부가 slim한 구조

적용:

- 홈 부위나 움푹 파진 내부 측정에 용이.

DL

전면부가 매우 slim 한 구조 (좁은 부위 측정에 용이)

적용:

- 매우 좁은 부위 측정

- 홈 부분의 바닥측정 등

C

표준 Device 인 D 타입보다 impact energy를 약하게 한 디바이스.

적용

- 표면 경화 또는 코팅 부품

- 측정물 최소 두께: 0.2mm.

- 얇은 측정물 또는 충격에 민감한 부품

G

Impact energy 를 강화한 디바이스 ( 표준 D형 디바이스보다 약 9 배 강한 impact)

적용:

- Brinell hardness range 전용

- 표면 후 가공을 하지 않는 대형 주조물 및 단조 부품.